+7(495)790-89-90

Программа выставки


Ищете качественное проработанное решение, которое будет окупаться максимально эффективно? Интересует полный сервис по внедрению и поддержке? Необходимо сконфигурировать выбранное оборудование со всеми аксессуарами и ПО с учетом особенностей вашего производства и заданной системой качества? Нужно принять верное взвешенное решение и сделать правильный выбор?

Участие в бизнес – мероприятиях нашей выставки может стать для вас идеальным решением!

Бизнес – мероприятия Control Days. Moscow Moscow будут проходить 17 и 18 Апреля 2018 на конференционных площадках удобно расположенных прямо на выставке!

Заходите к нам послушать лекции и мастер – классы экспертов – теоретиков и практиков, и/или примите участие в интенсивах, организованных ведущими компаниями – участницами. Взамен обещаем Вам массу полезной информации, новые идеи и знакомство с интересными людьми!

Анонсы мероприятий будут появляться на этой странице, следите за обновлениями и приходите к нам в гости! Вход бесплатный, только зарегистрируйтесь на выставку по ссылке - Регистрация.

Metrology Days, Открытые тематические выступления и лекции


/ 17 Апреля 2018 г. / Первый день
/ Сессия Testing
9.45 - 10.15Вибрационные испытания, сбор и анализ данных. Современный подход,
Докладчик: Висом
10.15 - 11.00Ускоренные способы оценивания запаса прочности изделий при ресурсных испытаниях на воздействие ШСВ,
Докладчик: ZETLab
11.00 - 11.30Автоматизированные системы управления стендовыми испытаниями,
Докладчик: Подольский А. National Instruments
11.40 - 12.30Регламент по техническому регулированию и метрологии в оборонной промышленности,
Докладчик: ФГУП «ВНИИМС»
12.30 - 13.30Особенности применение и калибровки активных антенных решеток для испытаний ЭМС на восприимчивость к радиочастотному электромагнитному полю от 800 МГц до 18 ГГц.
Докладчик: Остек-Электро
/ Сессия Control
Объединенные лекции компании Мастер Сервис Метролоджи Групп
13.30 - 14.00Новое поколение КИМ FARO Quantum: новый стандарт качества ISO10360-12:2016
14.00 - 14.30Alicona InfiniteFocus. Последние разработки в мире бесконтактного промышленного контроля параметров шероховатости и контура
14.30 - 15.00Новые возможности лазерного трекера FARO Vantage: мобильность и скорость
15.00 - 15.30OGP Fusion. Мощная, быстрая, гибкая и точная мультисенсорная система: новый уровень автоматизации и производительности измерений
15.30 - 16.00Новая концепция компании Jenoptik. Новая бюджетная линейка Jenoptik Opticline CS: по-прежнему высокая точность!
16.00 - 16.30Zone3. Новое поколение метрологического программного обеспечения от OGP.
 
/ 18 Апреля 2018 г. / Второй день
/ Сессия Control
Объединенные лекции компании Mitutoyo RUS
9.00 - 9.10Приветственное слово. Компания Mitutoyo в России и мире
9.10 - 9.30Обзор применения и новинки ручных средств измерений Mitutoyo
9.30 - 10.20Координатно-измерительные машины Mitutoyo. Возможности. Особенности. Опыт инсталляций в России и мире. Программное обеспечение для автоматического создания программ измерения по CAD моделям – MiCAT Planner
10.20 – 11.00Примеры успешного применения формоизмерительного оборудования Mitutoyo – контурографы, профилометры, кругломеры
11.00 - 11.30Опыт компании Mitutoyo в области определения твердости материалов
11.30 - 12.00Оптические приборы Mitutoyo для бесконтактных измерений
12.00 - 12.15Информационные и образовательные ресурсы Mitutoyo для предприятий и учебных заведений
12.15 - 12.30Розыгрыш сувениров от компании Mitutoyo. Открытый форум и завершение выступлений
Сессия Testing
12.30 - 13.00Проведение аттестации вибростендов с помощью системы управления вибрацией Vibration Research VR9500,
Докладчик: Vibration Research /США/
13.00 - 13.30Технологии быстрого прототипирования и программно-аппаратного моделирования (HIL) при проведении комплексных стендовых испытаний,
Докладчик: Пронин П. National Instruments
13.30 - 14.00Аттестация испытательного оборудования,
Докладчик: ФГУП ВНИИМ им. Д. И. Менделеева
14.00 - 15.00Обзор ассортимента средств измерения ZEMIC,
Докладчик: Zemic
15.00 - 15.30Высокоточные приборы в области электрических измерений - признание эталонами единиц величин в ЦСМ",
Докладчик: Ростест-Москва
15.30 - 16.00Вибрационные испытания, сбор и анализ данных. Современный подход,
Докладчик: Висом
16.00 - 17.00Особенности применение и калибровки активных антенных решеток для испытаний ЭМС на восприимчивость к радиочастотному электромагнитному полю от 800 МГц до 18 ГГц.
Докладчик: Остек-Электро